JSM-IT810场发射扫描电子显微镜 JSM-IT810系列FE-SEM结合多功能性和高空间分辨率，实现了自动化操作。内置无需编码的成像和EDS分析自动化功能，使工作流程更加流畅高效。 此外...

JSM-IT710HR 热场发射扫描电子显微镜 清晰的可见性促进新发现！目前，除了纳米级的分辨率和分析性能外，数据采集的处理能力也被认为是重要的。JSM-IT710HR是JEOL 以 “任何人都能轻...

JSM-IT210 扫描电镜是日本电子制造的最小巧的落地型扫描电子显微镜。5轴马达驱动使得操作更安心和快速；而且因为装有“Simple SEM”，只需选好微区就能自动观察和分析。JSM-IT210 扫...

JSM-IT510 InTouchScope™ 日本电子SEM不仅是开展科研工作所不可少的工具，对于需要品控的制造工厂也是*。 在这些场景中，用户需要重复执行相同的观察操作，因此快速完成这...

JSM-IT210 InTouchScope™ 扫描电镜价格不仅是开展科研工作所不可少的工具，对于需要品控的制造工厂也是*。 在这些场景中，用户需要重复执行相同的观察操作，因此快速完成这些...

JSX-1000S 能量色散型X射线荧光分析仪采用触控屏操作、提供更加简便迅速的元素分析。具备常规定性、定量分析（FP法・检量线法）、RoHS元素筛选功能等。　 利用丰富的硬件/软件选配件、还能进行更...

随着先进材料构造的微细化和制造过程的复杂化，形貌观察、元素分析和晶体分析等的评估技术也对分辨率和精度有了更高的要求。为了满足这些需求，JEOL推出新一代双束加工观察系统JIB-4700F。

JIB-4000PLUS 聚焦离子束加工观察系统配置了高性能的离子镜筒(单束FIB装置)。 被加速的镓离子束经聚焦照射样品后，能对样品表面进行SIM观察 、研磨、及碳和钨等沉积。还可以为TEM制备薄膜...

JXA-iHP200F 场发射电子探针显微分析仪在保持高局部微量元素分析性能的同时，追求每个人都能简单快速地使用好仪器。该仪器能更加有效地进行观察分析和操作，是更先进的一体化集成FE-EPMA。

IB-19520CCP截面样品制备装置在加工过程中利用液氮冷却，能减轻离子束对样品造成的热损伤。冷却持续时间长、液氮消耗少的构造设计。在装有液氮的情况下，也能将样品快速冷却、恢复到室温，并且可以拆卸。...

IB-19530CP截面样品制备装置为了满足市场多样化的需求，IB-19530CP截面抛光仪采用多用途样品台，通过交换各种功能性样品座实现了功能的多样化。

EM-09100IS 离子切片仪用于TEM 、STEM 、 SEM 、 EPMA 和 AUGER样品制备的创新方法 离子切片仪制备薄膜样品比传统制备工具快速、简单。低能量、低角度（0°到6&...